DDR的信號探測技術

在DDR的信號測試中，還有 一 個要解決的問題是怎么找到相應的測試點進行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle、SATA、USB等總線 一 樣有標準的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接，而且JEDEC對信號規范的定義也都是在內存顆粒的BGA引腳上，這就 使得信號探測成為一個復雜的問題。

比如對于DIMM條的DDR信號質量測試來說，雖然在金手指上測試是方便的找到 測試點的方法，但是測得的信號通常不太準確。原因是DDR總線的速率比較高，而且可能 經過金手指后還有信號的分叉，這就造成金手指上的信號和內存顆粒引腳上的信號形狀差異很大。 快速 DDR4協議解碼功能.機械DDR一致性測試規格尺寸

通常我們會以時鐘為基準對數據信號疊加形成眼圖，但這種簡單的方法對于DDR信 號不太適用。DDR總線上信號的讀、寫和三態都混在一起，因此需要對信號進行分離后再進 行測量分析。傳統上有以下幾種方法用來進行讀/寫信號的分離，但都存在一定的缺點。

(1)根據讀/寫Preamble的寬度不同進行分離(針對DDR2信號)。Preamble是每個Burst的數據傳輸開始前，DQS信號從高阻態到發出有效的鎖存邊沿前的  一段準備時間，有些芯片的讀時序和寫時序的Preamble的寬度可能是不一樣的，因此可以  用示波器的脈沖寬度觸發功能進行分離。但由于JEDEC并沒有嚴格規定寫時序的  Preamble寬度的上限，因此如果芯片的讀/寫時序的Preamble的寬度接近則不能進行分  離。另外，對于DDR3來說，讀時序的Preamble可能是正電平也可能是負電平；對于  DDR4來說，讀/寫時序的Preamble幾乎一樣，這都使得觸發更加難以設置。 機械DDR一致性測試規格尺寸4代DDR之間有什么區別？

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數量很多，雖然逐 個測試是嚴格的方法，但花費時間較多，所以有時用戶會選擇一些有代表性的信號進行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號進行測試。

還有些用戶想在溫箱里對DDR信號質量進行測試，比如希望的環境溫度變化范圍為-40～85℃,這對于使用的示波器探頭也是個挑戰。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會被損壞。如果要在溫箱里對信號進行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內提供1.5GHz的測量帶寬。

克勞德高速數字信號測試實驗室

DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內存，DDR內存的發展已經經歷了五代，目前 DDR4已經成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的 速率是指其數據線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數據線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態轉換時間、高阻態時間、總線刷新時間等，因此其實際的總線傳輸速率 達不到這個理想值。 DDR4 和 LPDDR4 一致性測試應用軟件提供了多種可以簡化設計驗證的關鍵功能。

為了進行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區域（Zone）定義的方式把讀寫數據可靠分開。

根據讀寫數據的建立保持時間不同，Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區域的方式方便地分離出讀、寫數據，并進一步進行眼圖的測試。

信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進行定量分析，

用戶可以根據JEDEC的要求自行定義一個模板對讀、寫信號進行模板測試，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR原理及物理層一致性測試；海南智能化多端口矩陣測試DDR一致性測試

DDR-致性測試探測和夾具；機械DDR一致性測試規格尺寸

DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內容可以分為兩方面：波形參數和抖動。波形參數主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規范參數。對這些抖動參數的測試需要用軟件實現，比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器，測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置，被測系統建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 機械DDR一致性測試規格尺寸