USB4.0的接收容限測試

對于USB4.0的接收端來說，主要進行的是接收容限測試，用于驗證接收端在壓力信號(StressedElectricalSignal)下的表現。具體的測試項目包括壓力信號的誤碼率測試(BER)、突發誤碼率測試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測試要在壓力信號下進行，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發生器產生帶預加重、正弦抖動(PJ)、隨機抖動(RJ)、擴頻時鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號，并用高帶寬示波器進行壓力信號校準。校準完成后再把壓力信號注入被測件，在不同的正弦抖動幅度和頻率下進行誤碼率測試。在USB4.0的接收容限測試中，需要做兩種場景的測試：Casel的測試中沒有插入USB電纜，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測試中要插入2m 克勞德高速數字信號測試實驗室USB標準測試方案；DDR測試USB測試USB測試

USB4.0 的 規范 是 2021 年 5 月份發 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；測 試 規 范 是 2021 年 7 月 份 發 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因為 USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應用場景，  針對 的測試點分別是 TP2 和TP3，  即通俗講的近端測試和遠端測試。 在進行遠端測試時，需要考慮無源電纜的影響。因為一根實體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場景，  包括插入損耗、回 波損耗、串擾等，為了保證測試的一致性和可重復性，發動端測 試都是用軟件的算法，  利用示波器嵌入 S 參數 / 傳遞函數的方式， 實現參考鏈路的模擬。同時，  為了保證測試精度，  USB4.0 要求示 波器在進行信號捕獲前，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測試電纜的影響。 DDR測試USB測試USB測試USB3.0一致性測試環境；

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基本介紹隨著USB技術在消費電子產品和其他電子產品上的快速發展和普及應用，USB性能規范和符合性測試變得越來越重要。如果生產商希望在產品上粘貼符合USB-IF標準的USB認證標志，任何附有USB端口的產品，例如電腦、手機、音視頻產品以及其他電子設備等都必須進行USB測試。北測是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標準，可幫助制造商獲得USB認證，并在產品上粘貼USB標志。測試服務USB測試服務包括：高速、全速、低速USB設備測試·外部裝置·主機內插卡·集線器·系統·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG

USB2.0技術已被的市場接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產品打開新天地，包括全動態視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬盤機。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現了新的測試和量測方面的挑戰。

資料速率增加40倍后雖然帶來了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應商帶來了各種新的設計挑戰。特別是在訊號品質問題方面，如電路板的布局、抖動、上升和下降時間、電磁場干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設計問題。保持訊號質量是保證USB2.0裝置合乎規格，并獲得USB2.0「認證」標志的關鍵之一。訊號質量測試包括:?眼圖測試?信號速率?數據包結束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動?KJ抖動?連續抖動?單調測試（適用于高速）?漲落時間 USB4.0一致性測試環境；示波器、測試軟件、夾具；

USB接口測試USB3.0測試USB-IF標準隨著USB技術在消費電子產品和其他電子產品上的快速發展和普及應用，USB性能規范和符合性測試變得越來越重要。如果生產商希望在產品上粘貼符合USB-IF標準的USB認證標志，任何附有USB端口的產品，例如電腦、手機、音視頻產品以及其他電子設備等都必須進行USB測試。是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標準，可幫助制造商獲得USB認證，并在產品上粘貼USB標志。為滿足行業發展的需要，提供的USB測試服務，包括USB一致性測試、USB性能測試以及USB產品調試實驗室租賃服務。

測試服務USB測試服務包括：高速、全速、低速USB設備測試外部裝置主機內插卡集線器系統集成電路電線組件連接器USBOTG USB2.0一致性測試環境；數字信號USB測試熱線

USB3.0的總線架構展示？DDR測試USB測試USB測試

每一代USB新的標準推出，都考慮到了對前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強的供電能力及對多協議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實現。由于USB總線的信號速率已經很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復雜，所以給設計和測試驗證工作帶來了挑戰，對于測試儀器的功能和性能要求也與傳統的USB2.0差別很大。下面將詳細介紹其相關的電氣性能測試方法。由于涉及的標準眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標準統稱為USB3.x,并與USB4.0標準分開介紹。DDR測試USB測試USB測試