Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術為,覆蓋 190-2700nm 全光譜,可測 2.5μm 至 10mm 光束直徑。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統設備極限,捕捉亞微米級光斑細節。 技術優勢: 雙模式智能適配:軟件自主切換刀口 / 狹縫模式,解決 < 20μm 極小光斑與 10mm 大光斑的測量難題 高功率安全檢測:創新狹縫物理衰減機制,無需外置衰減片即可直接測量近 10W 激光 超分辨率成像:基于狹縫掃描原理,完整還原光斑能量分布,避免特征丟失 設備內置正交狹縫轉動輪,通過旋轉掃描同步采集 XY 軸數據,經算法處理輸出 20 + 光束參數。緊湊模塊化設計適配工業與實驗室場景,通過 CE/FCC 認證,在 - 40℃至 85℃環境穩定工作,應用于激光加工、醫療設備及科研領域,助力客戶提升檢測精度與效率。光束發散角應該如何測量。可見光光斑分析儀原廠
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實現亞微米級光斑細節捕捉。創新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉輪設計實現功率范圍擴展,可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(M2 因子、發散角、束腰位置等),結合 BeamHere 軟件實現一鍵生成報告、多參數同步分析。系統以模塊化設計滿足光通信、醫療、工業等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產線在線監測場景。維度光斑分析儀價格光斑分析儀搭配什么 M2 因子測量模塊好?
使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質量,包括以下步驟: 準備:準備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數據處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機。 數據采集:啟動激光器,穩定照射傳感器,實時傳輸圖像信息到計算機。 數據分析:BeamHere 軟件自動處理數據,計算光斑參數和光束質量參數,支持 2D/3D 視圖。 結果展示:軟件以圖表和數值展示結果,一鍵生成包含所有數據的測試報告,便于導出和打印。 這些步驟幫助用戶測量光斑和光束質量,支持激光技術。
相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 1. 光斑尺寸 相機式:受限于 sensor 尺寸(≤10mm),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元)。 狹縫式:刀口模式可測小 2.5μm 光斑,適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機式: 6 片衰減片(BeamHere 標配),可測 1W,需控制功率 < 10μW/cm2。 狹縫式:狹縫物理衰減機制支持近 10W 直接測量,無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機式:觸發模式同步捕獲完整單脈沖光斑,兼容性強。 狹縫式:需匹配掃描頻率與激光重頻,易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態 相機式:面陣傳感器保留非高斯光束(如貝塞爾光束)及高階橫模細節。 狹縫式:狹縫累加導致復雜光斑失真,適合高斯或規則光斑。 選擇建議 狹縫式:亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機式:大光斑、脈沖激光或復雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術方案,適配實驗室與工業場景的全場景需求。工業光斑檢測儀如何選?維度光電;
維度光電-BeamHere 光斑分析儀憑借高精度光束參數測量能力,為激光技術在各領域的創新應用提供支持。在工業制造中,其亞微米級光斑校準功能幫助優化激光切割、焊接與打標工藝,確保光束能量分布均勻性,提升加工一致性。醫療領域中,BeamHere 用于眼科準分子激光設備的光束形態監測,通過實時分析能量分布與光斑穩定性,保障手術精度與安全性。科研場景下,該設備支持超短脈沖激光的時空特性,為新型激光器與光束整形技術突破提供數據支撐。光通信領域,BeamHere 可檢測光纖端面光斑質量,優化光信號耦合效率,確保通信系統性能穩定。全系產品覆蓋 200-2600nm 寬光譜范圍,支持千萬級功率測量,結合 M2 因子分析與 AI 算法,為客戶提供從光束診斷到工藝優化的全流程解決方案。極小光斑測量的光斑分析儀。Dimension光斑分析儀系統搭建
微弱信號光斑如何檢測?維度光電動態范圍增強算法,突破探測器極限,同步清晰成像。可見光光斑分析儀原廠
維度光電光束質量測量解決方案應用場景 Dimension-Labs 方案覆蓋工業、醫療、科研等多領域: 工業制造:高功率激光切割 / 焊接實時監測,優化熱影響區控制;亞微米光斑檢測保障半導體晶圓劃片良率。 醫療健康:飛秒激光手術光斑能量分析,提升角膜切削精度;M2 因子模塊校準醫用激光設備光束質量。 :解析超快激光傳輸特性,支持新型激光器;高精度參數測量加速非線性光學實驗進展。 光通信:光纖端面光斑形態優化,保障光器件耦合效率;激光器性能一致性檢測。 新興領域:Bessel 光束能量分布分析助力光鑷系統精度提升;激光育種參數優化推動作物改良。 優勢: 全場景適配:狹縫式(高功率 / 亞微米)與相機式(脈沖 / 復雜光束)組合覆蓋多樣化需求。 智能分析:AI 算法自動識別光斑異常,生成標準化報告。 模塊化擴展:支持 M2 因子測試、寬光譜適配等功能升級。可見光光斑分析儀原廠